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智能化介質(zhì)損耗測試儀 功能簡介

點擊次數(shù):671 更新時間:2023-04-07

智能化介質(zhì)損耗測試儀功能簡介 

1. U盤插口--用來導(dǎo)出儀器存儲的數(shù)據(jù)。

2. RS232接口--用來連接電腦,控制儀器,上傳數(shù)據(jù)。

3. CX插座--是試品信號的測量輸入端,正接線時由專用低壓電纜連接,此電纜單層屏蔽帶特制鱷魚夾,長8m,接試品低端。反接線時此端空置。

4. 彩色觸屏顯示器--640*480分辨率,控制并顯示菜單和各種提示信息及測量結(jié)果。

5. 打印機(jī)--打印測量數(shù)據(jù)。

6. CN插座--是外標(biāo)準(zhǔn)電容信號的測量輸入端,使用內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)時此端空置。

7. 自激法電流輸出端--測量CVT時候?qū)S枚俗?,一般接輔助繞組dn。

8. 自激法電流輸出端--測量CVT時候?qū)S枚俗?,一般接輔助繞組da。

9. 電源開關(guān)--整機(jī)電源的開啟和關(guān)閉。

10.高壓開關(guān)--負(fù)責(zé)儀器內(nèi)部高壓電源的啟動與關(guān)閉。只有使用外高壓時關(guān)閉,其余時候均應(yīng)處于打開狀態(tài)。

11.電源插座--交流220V±10%,50±1Hz電源輸入口,帶5A保險管。

12.接地端子--為接地線接線端子。

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 高壓線HV插座         高壓線接地屏蔽插座(內(nèi)部已經(jīng)接地,只需插上即可)


智能化介質(zhì)損耗測試儀儀器操作步驟

1.打開電源開關(guān),儀器進(jìn)行自檢,若自檢良好,液晶屏顯示圖十開機(jī)界面

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    圖十二 模式選擇修改圖

所有的測試模式都在下拉菜單上,點擊您想選擇的模式即可。

正接線,反接線,反接線低壓屏蔽。

 

4)高壓選擇的修改,和修改測試模式一樣。用觸屏筆或手指點擊 “內(nèi)高壓",出現(xiàn)下拉菜單 內(nèi)高壓,外高壓,點擊您想選擇的高壓即可。

5)標(biāo)準(zhǔn)選擇的修改,和修改測試模式一樣。用觸屏筆或手指點擊 “內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)",出現(xiàn)下拉菜單 內(nèi)標(biāo)準(zhǔn),外標(biāo)準(zhǔn),點擊您想選擇的標(biāo)準(zhǔn)即可。

 

4.測量前準(zhǔn)備:

1)接地線一端接儀器的接地柱,另一端可靠接大地,保證儀器外殼處在地電位上。

2)正接線時:將高壓電纜插頭插入后門HV插座中,將另一端的紅色大鉗子夾到被測試品的gao端引線上,黑色小鉗子懸空或夾在紅色大鉗子上。將CX低壓電纜插入CX插座中,另一端的紅色夾子夾試品的低端,黑色夾子懸空或接屏蔽裝置。

3)反接線時:將高壓電纜插頭插入后門HV插座中,將另一端的紅色大鉗子夾到被測試品的gao 端引線上,紅色小鉗子懸空或接屏蔽裝置。Cx插座不用。

5.測試過程:


















           圖十三 儀器啟動測試前界面

選擇好測試項目,測試頻率,測試電壓等項目,如圖十三所示。

確保接線正確之后,用觸屏筆或手指點擊“啟動儀器測試"。儀器開始升壓,測量,

如圖十四,圖十五所示。

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  儀器采用雙變頻測試,圖十四為55Hz測試,


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圖十五為45Hz測試。

 

6.測試結(jié)果: 

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圖十六 反接線測試結(jié)果            

7.測試完畢,事件處理

1)測試完畢可以把測試數(shù)據(jù)存儲起來。用觸屏筆或手指點擊“存儲"按鈕,出現(xiàn)圖十八

 

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圖十八 數(shù)據(jù)存儲界面

用觸屏筆或手指點擊數(shù)據(jù)編號框內(nèi)的數(shù)值“1",會出現(xiàn)小鍵盤。如圖十九數(shù)據(jù)輸入界面

 

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圖十九 序號數(shù)據(jù)輸入界面

輸入存儲編號,然后按下OK。數(shù)據(jù)編號5就會出現(xiàn)在數(shù)據(jù)編號框內(nèi)。按下存儲,儀器會“嘟"響一聲,然后返回到測試結(jié)果界面。表示存儲完畢。

 

2)測試數(shù)據(jù)打印。測試完畢之后,在測試結(jié)果界面下,用觸屏筆或手指點擊“打印"按 鈕,會將測試數(shù)據(jù)打印出來。如圖二十 數(shù)據(jù)打印圖

 

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圖二十  據(jù)打印圖

3)測試。打印數(shù)據(jù)或存儲數(shù)據(jù)完畢,用觸屏筆或手指點擊“退出"按鈕,儀器會返回初始開機(jī)界面。

智能化介質(zhì)損耗測試儀現(xiàn)場試驗注意事項

如果使用中出現(xiàn)測試數(shù)據(jù)明顯不合理,請從以下方面查找原因:

1、高壓線大紅夾子接觸不良

現(xiàn)場測量使用大紅夾子連接試品時,大紅夾子務(wù)必與試品接觸良好,否則接觸點放電會引起數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動!尤其是引流線氧化層太厚,請刮一下外皮以免接觸不良。

2、接地接觸不良

接地不良會引起儀器保護(hù)或數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動。應(yīng)刮凈接地點上的油漆和銹蝕,務(wù)必保證0電阻接地!

3、空氣濕度過大

空氣濕度大使介損測量值異常增大(或減小甚至為負(fù))且不穩(wěn)定,必要時可加屏蔽環(huán)。因人為加屏蔽環(huán)改變了試品電場分布,此法有爭議,可參照有關(guān)規(guī)程。

4、發(fā)電機(jī)供電

發(fā)電機(jī)供電時輸出電壓不穩(wěn)定,而且有高壓毛刺,可能造成誤接380V保護(hù)啟動??梢栽诎l(fā)電機(jī)的輸出端多串聯(lián)幾個電源濾波器,能夠解決這個問題。

 

5、測試線

由于長期使用,易造成測試線隱性斷路,或芯線和屏蔽短路,或插頭接觸不良,用戶應(yīng)經(jīng)常維護(hù)測試線;

測試標(biāo)準(zhǔn)電容試品時,應(yīng)使用全屏蔽插頭連接,以消除附加雜散電容影響,否則不能反映出儀器精度;

6、工作模式選擇

接好線后請選擇正確的測量工作模式(正、反),不可選錯。特別是干擾環(huán)境下應(yīng)選用變頻抗干擾模式。

7、試驗方法影響

由于介損測量受試驗方法影響較大,應(yīng)區(qū)分是試驗方法誤差還是儀器誤差。出現(xiàn)問題時可首先檢查接線,然后檢查是否為儀器故障。

8、儀器故障

用萬用表測量一下測試線是否斷路,或芯線和屏蔽是否短路;輸入電源220V過高或過低;接地是否良好。

用正、反接線測一下標(biāo)準(zhǔn)電容器或已知容量和介損的電容試品,如果結(jié)果正確,即可判斷儀器沒有問題;

拔下所有測試導(dǎo)線,進(jìn)行空試升壓,若不能正常工作,儀器可能有故障。

十、變頻測量討論

1、變頻測量

干擾十分嚴(yán)重時,變頻測量能得到準(zhǔn)確可靠的結(jié)果。例如用55Hz測量時,測量系統(tǒng)只允許55Hz信號通過,50Hz干擾信號被有效抑制,原因在于測量系統(tǒng)很容易區(qū)別不同頻率,由下述簡單計算可以說明選頻測量的效果:

兩個頻率相差1倍的正弦波疊加到一起,高頻的是干擾,幅度為低頻的10倍:

Y=1.234sin(x+5.678°)+12.34sin(2x+87.65°)

在x=0/90/180/270°得到4個測量值

Y0=12.4517,Y1= -11.1017,Y2=12.2075,Y3= -13.5576,

計算A=Y1-Y3=2.4559,B=Y0-Y2=0.2442,則:

φ=tg-1(B/A)=5.678° V=  A2+B2/2=1.234

這剛好是低頻部分的相位和幅度,干擾被抑制。實際波形的測量點多達(dá)數(shù)萬,計算量很大,結(jié)果反映了波形的整體特征。

 

2、頻率和介損的關(guān)系

介損有RC串聯(lián)和并聯(lián)兩種理想模型:串聯(lián)模型tgδ=2πfRC,并聯(lián)模型tgδ=1/(2πfRC),tgδ分別隨頻率f成正比和反比。如圖所示,f對*正比和*反比兩種模型影響較大。但實際電容器是多種模型交織的混合模型,此時f的影響就小。

 


 

 

 

低頻介損曲線(<1kHz)    高頻介損曲線或低頻電路諧振

 

 

3、自動變頻與50Hz等效

儀器采用自動變頻在干擾頻率50Hz兩側(cè)(45Hz和55Hz)各測一個點,然后推算50Hz頻率下數(shù)據(jù)。除多個元件電路的低頻諧振外,單個試品中的介質(zhì)不可能在低頻引起能量吸收峰,工頻附近介損總是隨頻率單調(diào)變化的。因此這種測量方法不會帶來明顯誤差。實際上,平均前的兩個介損值已十分接近,即使不平均也*有參考價值。目前,變頻介損儀已成為介損測量的常規(guī)儀器,其優(yōu)異的抗干擾能力和準(zhǔn)確度已經(jīng)得到認(rèn)